高溫蒸煮儀用途：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。 

 
高溫蒸煮儀特點：
1.微電腦溫度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED數字顯示.
2.白金溫度感知器（PT-100）與精確的溫度可控制解析能力0.1C.
3.蒸汽試驗目標溫度設定控制/蒸汽試驗運轉計時時間設定控制.
4.全自動安全保護裝置、雙重高溫保護/蒸汽用水斷水空焚保護裝置..

高溫蒸煮儀參數：
　　a.型號:PCT-35
　　b.內部尺寸:Φ350×D500（mm）外部尺寸:580×850×650（mm）
　　c.溫度范圍:100℃～132℃
　　d.濕度范圍:00%RH飽和蒸氣
　　e.壓力范圍:環境大氣壓+0～4kg/cm2
　　f.循環方式:水蒸氣自然對流循環
　　g.內箱材質:不銹鋼板材質#SUS304外箱材質:不銹鋼板材質#SUS304
　　h.時間范圍:0～999Hr加壓時間:0.00Kg～2.00Kg/cm2約45分鐘

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